對(duì)應(yīng)法規(guī):AEC-Q102
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
汽車車燈電子元器件AEC-Q102認(rèn)證
目前汽車產(chǎn)業(yè)中針對(duì)于零件資格及品質(zhì)系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)的就是AEC(汽車電子**),針對(duì)于主動(dòng)零件所設(shè)計(jì)出的標(biāo)準(zhǔn)為 [AEC-Q100],針對(duì)于被動(dòng)元件設(shè)計(jì)為[AEC-Q200],其規(guī)范了被動(dòng)零件所必須達(dá)成的產(chǎn)品品質(zhì)與可靠度。
AEC-Q102是基于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理。
自2017年3月份以來,車燈光器件按照新的AEC-Q102進(jìn)行認(rèn)證測(cè)試。如果成功完成根據(jù)本文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果,那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過了AEC Q102認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商,可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些,但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過了AEC Q102認(rèn)證。
零件工作溫度等級(jí)的定義
零件工作溫度等級(jí)定義如下:
0 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-150℃
1 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-125℃
2 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-105℃
3 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍-40℃-85℃
4 等級(jí):環(huán)境工作溫度范圍0℃-70℃
AEC-Q102認(rèn)證的要求及目的
2.測(cè)試樣品:
1)批次要求:測(cè)試樣品應(yīng)該由認(rèn)證家族中有代表性的器件構(gòu)成,由于缺少通用數(shù)據(jù)就需要有多批次的測(cè)試,表1 中列出的測(cè)試樣品必須是由非連續(xù)晶圓批次中近似均等的數(shù)量組成,并在非連續(xù)成型批次中裝配。即樣品在生產(chǎn)廠里必須是分散的,或者裝配加工線至少有一個(gè)非認(rèn)證批次;
2)生產(chǎn)要求:所有認(rèn)證器件都應(yīng)在制造場(chǎng)所加工處理,有助于量產(chǎn)時(shí)零件的傳輸。其他電測(cè)試場(chǎng)所可以在其電性質(zhì)證實(shí)有效后用于電測(cè)量。
3)測(cè)試樣品的再利用:已經(jīng)用來做非破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件可以用來做其他認(rèn)證測(cè)試,而做過破壞性認(rèn)證測(cè)試的器件則除了工程分析外不能再使用;
4)樣品尺寸要求
用于認(rèn)證測(cè)試的樣品尺寸與(或)提交的通用數(shù)據(jù)必須與表1中*的小樣品尺寸和接受標(biāo)準(zhǔn)相一致。如果供應(yīng)商選擇使用通用數(shù)據(jù)來認(rèn)證,則特殊的測(cè)試條件和結(jié)果必須記錄并對(duì)使用者有可用性?,F(xiàn)有可用的通用數(shù)據(jù)應(yīng)首先滿足這些要求和表1的每個(gè)測(cè)試要求。如果通用數(shù)據(jù)不能滿足這些要求,就要進(jìn)行器件特殊認(rèn)證測(cè)試。
5)預(yù)前應(yīng)力測(cè)試和應(yīng)力測(cè)試后要求:表1中的附加要求欄為每個(gè)測(cè)試*了終端測(cè)試溫度(室溫、高溫和低溫)。溫度特殊值必須設(shè)有差情況,即每個(gè)測(cè)試中用至少一個(gè)批次的
通用數(shù)據(jù)和器件特殊數(shù)據(jù)來設(shè)置溫度等級(jí)較端。
6)應(yīng)力測(cè)試失效后的定義:
測(cè)試失效定義為設(shè)備不符合測(cè)試的器件規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,或是供應(yīng)商的數(shù)據(jù)表,任何由于環(huán)境測(cè)試導(dǎo)致的外部物理破壞的器件也要被認(rèn)為是失效的器件。如果失效的原因被廠商和使用者認(rèn)為是非正確運(yùn)轉(zhuǎn)、靜電放電或一些其他與測(cè)試條件不相關(guān)的原因,失效就算不上,但作為數(shù)據(jù)提交的一部份上報(bào)。
汽車元器件失效分析項(xiàng)目:
① 形貌分析技術(shù):體視顯微鏡、金相顯微鏡、X射線透視、聲學(xué)掃描顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡、聚焦離子束。
② 成分檢測(cè)技術(shù):X射線能譜EDX、俄歇能譜AES、二次離子質(zhì)譜SIMS、光譜、色譜、質(zhì)譜。
③ 電分析技術(shù):I-V曲線、半導(dǎo)體參數(shù)、LCR參數(shù)、集成電路參數(shù)、頻譜分析、ESD參數(shù)、電子探針、機(jī)械探針、絕緣耐壓、繼電器特性。
④ 開封制樣技術(shù):化學(xué)開封、機(jī)械開封、等離子刻蝕、反應(yīng)離子刻蝕、化學(xué)腐蝕、切片。
⑤ 缺陷定位技術(shù):液晶熱點(diǎn)、紅外熱像、電壓襯度、光**顯微像、OBIRCH。
詞條
詞條說明
IES文件就是光源(燈具)配光曲線文件的電子格式,因?yàn)樗臄U(kuò)展名為“*.ies”,所以,平時(shí)我們就直接稱它為IES文件了。IES文件的意義就是由北美照明協(xié)會(huì)定制施行的,現(xiàn)為許多地區(qū)默認(rèn)的存儲(chǔ)光源空間光強(qiáng)分布的一種文件格式。配光曲線的定義:它是指光源(或燈具)在空間各個(gè)方向的光強(qiáng)分布。配光曲線的表示方法:配光曲線一般有三種表示方法:一是較坐標(biāo)法,二是直角坐標(biāo)法,三是等光強(qiáng)曲線。A、較坐標(biāo)配光曲線:在
夾芯復(fù)合材料由薄的復(fù)合材料面板與相對(duì)較厚、低密度的芯部粘合而成。使用芯部將兩個(gè)剛性和強(qiáng)大的復(fù)合材料面板分離,可產(chǎn)生特別適合彎曲荷載的復(fù)合夾層結(jié)構(gòu)。在這種載荷下,面板承受與彎曲相關(guān)的拉伸應(yīng)力和壓縮應(yīng)力,而中心芯部主要承受剪切應(yīng)力。因此,夾芯復(fù)合材料在彎曲載荷下會(huì)發(fā)生面板或芯部破壞,并且已經(jīng)開發(fā)出測(cè)試方法來評(píng)估這兩種類型的失效。這兩種撓曲試驗(yàn)的主要區(qū)別在于夾層梁試件的支撐跨度長(zhǎng)度、長(zhǎng)梁與短梁以及荷載配
【EMC檢測(cè)】EMC檢測(cè)的EMS的檢驗(yàn)項(xiàng)目
①. 靜電放電抗擾度;②. 輻射電磁場(chǎng)(80MHz~1000 MHz)抗擾度;③. 電瞬變/脈沖群抗擾度;④. 浪涌(雷擊)抗擾度;⑤. 注入電流(150kHz~230MHz)抗擾度;⑥. 電壓暫降和短時(shí)中斷抗擾度龍成檢測(cè)(Lonch test):電磁兼容性測(cè)試(EMC)電磁干擾EMI傳導(dǎo)測(cè)試(CE) 輻射測(cè)試(RE:3米實(shí)驗(yàn)室和10米實(shí)驗(yàn)室)電流諧波測(cè)試(Harmonics) 電壓閃爍測(cè)試(Fl
認(rèn)證CCC VDE UL CUL ETL FCC KC SAA TUV CE ROHS ISO
認(rèn)證服務(wù)類別:產(chǎn)品認(rèn)證認(rèn)證優(yōu)惠辦理,免費(fèi)技術(shù)咨詢CCC VDE UL CUL ETL CSA FCC KC SAA TUV CE IMQ IRAM INMETRO??ROHS ISO等認(rèn)證,公司有獨(dú)立實(shí)驗(yàn)室,可提供樣品預(yù)測(cè)試,樣品制作輔導(dǎo),包樣,審廠一條龍服務(wù)。一次性,時(shí)間快。---------------------------------------------------
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