廣州高低溫測(cè)試機(jī)構(gòu)_高低溫測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

時(shí)間：2020-11-06作者：深圳市中鑒檢測(cè)技術(shù)有限公司瀏覽：121

廣州高低溫測(cè)試機(jī)構(gòu)_高低溫測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

高低溫測(cè)試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試前先檢查測(cè)試樣品的狀態(tài)，外觀、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，將樣品放入高低溫箱中，設(shè)置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時(shí)間、變溫的時(shí)間、周期數(shù)。比如高溫70 °C下保持2小時(shí)，然后從70 °C半小時(shí)內(nèi)降到低溫-20 °C，保持2小時(shí)，再?gòu)?/span>-20 °C半小時(shí)內(nèi)升溫到70 °C。如此循環(huán)，測(cè)試20個(gè)循環(huán)。測(cè)完后，拿出樣品，檢查測(cè)試后樣品的外觀、功能、性能等。如發(fā)現(xiàn)樣品跟測(cè)試前相比無(wú)明顯變化，或者變化在所定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之類(lèi)，則表示測(cè)試樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求，否則為不符合。

電子電器產(chǎn)品的高低溫測(cè)試分為高低溫存儲(chǔ)測(cè)試和高低溫運(yùn)行測(cè)試。高低溫存儲(chǔ)是產(chǎn)品不上電，在非工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。高低溫運(yùn)行是給產(chǎn)品供電，在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。




深圳市中鑒檢測(cè)技術(shù)有限公司（中文檢測(cè)：中鑒檢測(cè)，英文全稱(chēng)：Shenzhen CCTI Technology Co., Ltd.，簡(jiǎn)稱(chēng)：CCTI TEST）是一家專(zhuān)業(yè)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，公司實(shí)驗(yàn)設(shè)備齊全，可對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行EMI輻射、EMS、CS、RF、ESD靜電、雷擊、浪涌、諧波、傳導(dǎo)、抗干擾、工頻磁場(chǎng)測(cè)試，同時(shí)可提供高低溫測(cè)試（低溫-70℃，高溫150℃，容量1立方）、灼熱絲測(cè)試、針焰測(cè)試、鹽霧測(cè)試、溫升測(cè)試、跌落測(cè)試、震動(dòng)測(cè)試等一系列測(cè)試！

高低溫測(cè)試對(duì)產(chǎn)品的影響：
一、高溫可能使產(chǎn)品過(guò)熱,影響使用安全可靠性，甚至損壞。如：
1、使絕緣或密封用灌漿膠熔化流失，潤(rùn)滑脂熔化流失，從而引起損塔
2、使材料性能發(fā)生變化
3、彈性元件的彈性或機(jī)械性能強(qiáng)度降低,縮短產(chǎn)品使用壽命
4、加速高分子材料和絕緣材料劣化和老化過(guò)程,縮短產(chǎn)品使用壽命。
二、低溫對(duì)機(jī)械、電工、電子產(chǎn)品影響是多方面的，并因產(chǎn)品拄能、程度輔結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)而異，如：
1、使電解液凍結(jié)t導(dǎo)致電解電容器、電池不能正常使用
2、潤(rùn)滑油粘度增加,甚至冷凝凍結(jié),影響產(chǎn)品起動(dòng)性能
3、影響電子產(chǎn)品正常啟動(dòng),增大儀表誤差
4、使材料變脆,如塑料、鋼鐵在低溫下*發(fā)生脆裂損壞,橡膠材料硬度增大,彈性下降。

高低溫測(cè)試具體收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)聯(lián)系深圳市中鑒檢測(cè)技術(shù)有限公司銷(xiāo)售精英進(jìn)行詳細(xì)咨詢(xún)。中鑒檢測(cè)，打造中國(guó)智造，讓世界較值得信賴(lài)！


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  詞條說(shuō)明

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• 歐盟MD機(jī)械指令2006/42/EC

  機(jī)械指令（MD）對(duì)機(jī)械有非常廣泛和詳細(xì)的法律定義，但主要認(rèn)為機(jī)械是指包含在動(dòng)力作用下移動(dòng)的零件的鏈接的任何產(chǎn)品。它還涵蓋了不是完整機(jī)器的程序集，以及出于共同目的而一起運(yùn)行的程序集或機(jī)器組。MD本身不僅適用于機(jī)械，還包括與機(jī)械相關(guān)的一系列設(shè)備，例如設(shè)計(jì)用于提供安全功能的組件，用于提升的配件，機(jī)器和拖拉機(jī)的可互換設(shè)備等。要聲明您的產(chǎn)品合格，您必須在產(chǎn)品上粘貼有效的CE認(rèn)證標(biāo)記，并出示由技術(shù)文件支持的合