X射線測(cè)厚儀校正方法

時(shí)間：2018-09-22作者：蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司瀏覽：1253

X射線測(cè)厚儀是檢測(cè)電鍍層厚度的儀器，通常x射線測(cè)厚儀被廣泛應(yīng)用于電鍍廠，五金廠，汽車零部件，PCB加工，電子連接件等行業(yè)。X射線測(cè)厚儀又叫膜厚儀，測(cè)膜儀，鍍層測(cè)試儀，x射線鍍層測(cè)厚儀，金屬測(cè)厚儀，xrf測(cè)厚儀，x-ray測(cè)厚儀，x熒光光譜鍍層測(cè)厚儀等。那么如何校正？

使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校正是x射線測(cè)厚儀的正確方法，標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

X射線測(cè)厚儀鍍層標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如：單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx。（所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST證書），美國Calmetrics公司是專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光金屬鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片及RoHS標(biāo)準(zhǔn)片，以及對(duì)標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院）標(biāo)準(zhǔn)或ANSI（American National Standards Institute美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)）標(biāo)準(zhǔn)。

x射線測(cè)厚儀介紹：

Thick800A是集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果較加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。



蘇州百測(cè)檢測(cè)科技有限公司專注于x射線熒光光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測(cè)儀器,x射線鍍層測(cè)厚儀,直讀光譜儀,XRF檢測(cè)儀器,手持式合金分析儀,等離子體**光譜儀,RHS2.0測(cè)試儀,手持式X熒光光譜儀等

• 詞條

  詞條說明

• XRF環(huán)保ROHS測(cè)試儀的優(yōu)缺點(diǎn)

  XRF的優(yōu)點(diǎn):a)?分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。b)?X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在**軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)較為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測(cè)定。c)

• 手持式銅鍍銀測(cè)厚儀介紹

  手持式銅鍍銀測(cè)厚儀它是市場(chǎng)上安全系數(shù)較高的一款手持式光譜儀：軟件防護(hù)，自動(dòng)關(guān)機(jī)；有防輻射道；*具開關(guān)保護(hù)功能，其他品牌沒有；聲光電360度*無死角警示功能。是當(dāng)今世界上較**的手持式XRF分析儀器，它具有其他進(jìn)口或國產(chǎn)沒有的性能優(yōu)勢(shì)： 1，它是目前市場(chǎng)上一一款**大屏幕的測(cè)試儀器，屏幕5寸； 2，外形美觀，流線性設(shè)計(jì)，酷似“法拉利”，它是較漂亮的手持式

• X射線熒光光譜儀原理

  X射線熒光光譜儀的原理是通過X射線照射樣品激發(fā)產(chǎn)生熒光，通過半導(dǎo)體檢測(cè)器收集**的熒光信息并通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，就能得出待測(cè)樣品的各種元素的含量。X射線熒光分析技術(shù)可以解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對(duì)復(fù)雜成份、材料中元素的快速、準(zhǔn)確分析。也可以用于ROHS六大有害物質(zhì)測(cè)試和塑料中鹵素的檢測(cè)，銅合金元素成分分析及金屬鍍層厚度測(cè)試等。 X射線熒光光譜儀的原理是利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、Al、

• 涂層測(cè)厚儀故障排除方法

  無損檢測(cè)之涂鍍層測(cè)厚儀的故障主要有示值顯示不穩(wěn)定、誤差較大、不顯示數(shù)值等。引起這些故障的原因有來自儀器本身的也有來自被測(cè)工件的，還有就是來自自然環(huán)境的影響，下面我們介紹一下排除這些故障的方法。 示值顯示不穩(wěn)定 導(dǎo)致涂鍍測(cè)厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測(cè)厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂鍍