隨著制造業(yè)的發(fā)展,業(yè)內(nèi)對材料的要求越來越高,材料加工市場越來越大,材料的涂鍍層種類也變的較加繁多,質(zhì)量要求也越來越高。那么如何來選擇一款價格合適又能滿足需要的膜厚計進(jìn)行測量材料鍍膜涂鍍層呢?接下來一六小編說說膜厚測試儀器儀表種類及特點。
一、磁性式
泛用于磁性金屬底材上(鐵,鋼)的非磁性單層膜厚,如鐵上鍍鋅,染黑,烤漆等。代表機(jī)型: CMI2o0系列,KETT LE系列,DELTASCOPE-FMP10。
磁性式膜厚測厚儀特點:
1、價格經(jīng)濟(jì),約1千~2萬,具體材料的差別需另外購買測頭,且鍍膜的種類有限制;
2、無損檢測,使用簡便,方便檢測大型的工件,, 體積小,約400cm2 300g左右;
3、測量厚度范圍廣,非金屬2~ 2000um左右,金屬鍍層2~40um左右,但只能測試單層膜厚;
4、測量誤差大,5%左右,分辨率低1um左右;
5、測頭的面積偏大 ,對需測的樣品要。求高:須有較大的平面用來測試( 7mmψ左右),基材厚度在0.35mm。以上,而且面對不同的形狀和材質(zhì)都需進(jìn)行校正。
二、渦電流式
泛用于非鐵系金屬底材上的絕緣性膜厚,如鋁上陽極處理,烤漆等。代表機(jī)型: ELCOMETER 456N系列,KETT LH系列。
渦電流式膜厚測厚儀特點:
1、價格經(jīng)濟(jì),約千-3萬,具體材料的差別需另外購買測頭,鍍膜的種類有限制;
2、無損檢測,使用簡便,體積小,約400cm2, 300g左右;
3、測量厚度范圍廣,0-1500um左右,但只能測試單層膜厚;
4、測量誤差大,5%左右,分辨率低,,lum左右;
5、測頭的面積偏大,對需測的樣品要求高:須有較大的平面用來測試( 7mmψ左右),:基材厚度在0.3mm以上,而且面對不同的形狀和材質(zhì)都需進(jìn)行校正。
三、紅外測厚儀
泛用于檢測無機(jī)涂層、**薄涂層和復(fù)合薄膜的儀器,主要用于鋼板上氧化表膜的厚度檢測SiO2、磷化物;薄膜上聚硅酮涂層厚度檢測及復(fù)合薄膜的各層厚度檢測等。代表機(jī)型:DJH系列RX-21O,RX-400。
紅外膜厚測厚儀特點:
1、與X射線比較設(shè)備價格低;
2、測量厚度范圍廣,0~ 40mm左右,但只能測試單層膜厚;
3、測量誤差大,5%左右,分辨率0.1um以上;
4、測頭的面積偏大對需測的樣品要求高:須有較大的平面用來測試( 20mmψ左右),但可配備購買多種測頭,面對不同的形狀和材質(zhì)需進(jìn)行校正。
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XU-100光譜測厚儀相比其他品牌測厚儀有哪些優(yōu)勢?
XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計,搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無損測量。檢測各種金屬鍍層,檢出限可達(dá)0.005μm,較近測距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi),凹槽深度測量范圍可達(dá)030mm,是一款測量鍍層厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型。① 下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。② 高精密微型移動滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。③ 微焦X
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光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測方面的應(yīng)用介紹
貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測一般依據(jù)兩項國家標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行,國家質(zhì)檢總局發(fā)布的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進(jìn)行貴金屬含量的無損檢測方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來測試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測方面有哪些優(yōu)勢呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)
光譜分析技術(shù)是目前應(yīng)用非常廣泛的分析檢測手段,在各領(lǐng)域都有其身影,冶金、地質(zhì)、機(jī)械制造、石油化工、農(nóng)業(yè)、生物、醫(yī)藥、輕工業(yè)、環(huán)境保護(hù)、空間物理學(xué)、物理化學(xué)等等。在冶金和機(jī)械制造等工業(yè)領(lǐng)域,光譜分析基本承擔(dān)了大量日常分析任務(wù),其歸納起來可分為以下幾個方面:1.爐前化驗檢測配合冶煉工程的熔煉過程,測定爐中鐵水或合金中各元素的含量是否符合設(shè)計要求。2.質(zhì)量分析配合質(zhì)檢部門,對在生產(chǎn)、試制和使用過程中
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
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