半導(dǎo)體芯片在進行高低溫測試時的注意事項

時間：2023-07-08作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：88

半導(dǎo)體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測試，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗我們可以檢測出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度，得以在短時間內(nèi)檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理損傷。

在做半導(dǎo)體芯片高低溫測試需要特別注意，在使用的過程中不能輕易打開半導(dǎo)體芯片高低溫測試箱，主要原因如下：

1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測試時需要用環(huán)境模擬實驗箱，在使用時，試驗箱內(nèi)會有各種ji端的環(huán)境，例如較低溫、高溫高壓、高溫高濕等特殊環(huán)境條件。

如果試驗箱中正在進行-70℃的較低溫測試，這個時候打開試驗箱門，寒冷的氣流會溢出試驗箱，假如我們的手指不做任何防護措施就觸碰到試驗箱壁或樣品上，手指會瞬間凍shang，凍shang部位的肌肉組織甚至?xí)乃?。另?/span>，在較低溫的情況下打開試驗箱門可能會產(chǎn)生蒸發(fā)器結(jié)霜的現(xiàn)象，會影響試驗箱降溫速度，甚至有可能會導(dǎo)致壓縮機損壞等問題。

如果在試驗箱中正在進行高溫150℃的測試時打開試驗箱門，高溫氣體會瞬間沖出試驗箱，打開時沒有做好相關(guān)防護的話，很有可能會燙shang我們的面部。較嚴重的情況時，如果，試驗箱旁有燃點低的可燃物，高溫氣體可能會引起起火。

其他環(huán)境試驗設(shè)備，比如恒溫恒濕試驗箱在進行高溫高濕試驗時，儀器內(nèi)的壓力和蒸汽會非常大，如果有人在此時打開試驗箱門，會有高溫高濕的蒸汽沖出試驗箱，這很可能會對操作人員造成嚴重的燙shang。

 

設(shè)備操作不當?shù)暮蠊麑Σ僮魅藛T的身體健康影響較大，所以我們要加強保護意識，學(xué)習(xí)如何正確操作機器，在半導(dǎo)體芯片高低溫測試運行途中，若沒有特殊情況需要打開試驗箱門，請勿打開試驗箱門。如果須要使用中途打開試驗箱門，那么一定要做好相關(guān)的防護措施，在做好保護措施的情況下用正確的方法打開試驗箱門。


廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

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  用過恒溫試驗箱的用戶都知道恒溫試驗箱在做濕度測試時，需要加入蒸餾水，蒸餾水主要用于做濕度測試時用到，如果只是做濕度測試（如高溫、低溫）時，是不需要用到水的，那么有些用戶就疑問了：恒溫試驗箱做高溫測試時，水需要放出來嗎？還是留在水箱里面？、、?? ? ? ?多年的生產(chǎn)經(jīng)驗告訴您：不需要的。在做濕熱測試時需要往水箱裝水，通過抽水泵將水引入到試驗箱進行濕

• 恒溫恒濕試驗機的使用注意常識

  1、使用該儀器須有專人負責(zé)，設(shè)備使用完畢應(yīng)切斷外來電源，免除意外事故發(fā)生。 2、工作室內(nèi)放置試品時，不能太密，以免影響工作室內(nèi)氣流的正常流動，每個物品之間須有10～20mm間隙，而且對稱放置，每層擱板上的物品放置要交錯，*底層擱板的距離與工作室底部必須有大于100mm的距離。3、在設(shè)備周圍應(yīng)留一定的空間，便于設(shè)備散熱及操作和維護。 4、控溫系統(tǒng)其他部件故障(用萬用電表測出故障所在，據(jù)情修理)。 5

• 發(fā)動機排氣試驗箱

  發(fā)動機排氣試驗箱： THE系列發(fā)動機排氣試驗箱主要是針對汽車、摩托車、特種車輛發(fā)動機在不同的溫度、濕度等條件下工作時排氣測試試驗。該試驗箱配以適當?shù)男嘛L(fēng)系統(tǒng)、調(diào)溫調(diào)濕系統(tǒng)，可滿足發(fā)動機或整車的常規(guī)性能及排放試驗等測試要求。比靜態(tài)單純試驗考核較能反應(yīng)試品的真實性，并為用戶提高產(chǎn)品質(zhì)量提供參考數(shù)據(jù)。 ? 主要型號技術(shù)規(guī)格及參數(shù) 序號 ? 產(chǎn)品名稱 產(chǎn)品型號 工作室尺寸（mm） 溫

• 高低溫低氣壓試驗箱/低氣壓試驗箱/高低溫循環(huán)濕度高度綜合試驗箱/高度真空試驗箱

  簡介：本試驗箱適用于對產(chǎn)品（整機）、零部件、材料進行高溫、低溫，高度（不**海拔30000米或45000米）以及高低溫循環(huán)試驗和溫度－高度綜合試驗，高、低溫試驗時本試驗箱可用于散熱試驗樣品和非散熱試驗樣品的試驗。對于散熱試驗樣品的試驗，其散熱功率不能**過試驗箱制冷量，因制冷量為動態(tài)值，其隨溫度點變化而有所變化。 QD系列技術(shù)參數(shù) 型號 QD6025 QD605 QD61 QD62? &