優(yōu)爾鴻信檢測|多層陶瓷電容短路失效分析

時間：2025-01-07作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：187

一 背景


客戶汽車方向盤主板功能失效，經(jīng)排查后主板 C1 電容出現(xiàn)短路現(xiàn)象（經(jīng)萬用表量測，電容兩端阻值約 14 KΩ），送測至實驗室分析其失效原因。



二 實驗方案




三 測試結(jié)果

1.電容測量（破壞前）：采用萬用表“歐姆”檔測量 C1 電容兩端阻值為 14.23KΩ。

2.3D 外觀觀察：主板 C1 位置焊盤表面殘存淡黃色透明裝物質(zhì)，其余未見異常。

3.SEM 外觀檢查（破壞前）：C1 電容表面及 Psd 點附近未發(fā)現(xiàn)有枝晶生長等異常，焊點表面發(fā)現(xiàn)有異物，懷
疑為助焊劑殘留。


3.EDS 成分分析（破壞前）：

1.C1 電容本體表面殘存“Sn”元素，懷疑為電化遷移造成，但未發(fā)現(xiàn)有枝晶生長現(xiàn)象；

2.C1 電容焊點表面焊點表面和異物位置含“Br”元素,可能為主板焊接后清洗不干凈或未清洗造成助焊劑殘留。

4.電容測量（破壞后）：

4.1.將C1電容取下后采用萬用表“蜂鳴”檔測量C1位置主板Pad兩端線路為“OL”狀態(tài)。

4.2.將C1電容取下后采用萬用表“歐姆”檔測量電容兩端阻值14.23KΩ，說明C1電容短路。

4.3用醇類**試劑對電容進(jìn)行清洗（排除本體表面金屬離子污染造成短路的可能），清洗后采用萬用表“歐姆”檔測

量電容兩端阻值14.61KΩ，說明C1電容本體可能存在短路現(xiàn)象。

5.電容外觀觀察（破壞后）：:C1 電容本體表面有透明裝物質(zhì)（助焊劑殘留），Site3（電容與主板焊接面）面
尤為明顯，其余未見異常。
6.CT 內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析：CT 掃描后發(fā)現(xiàn)，電容電極層內(nèi)有一處灰度值稍**附近位置，懷疑電容內(nèi)部有空洞。

7.切片及EDS成分分析：




四 分析討論

電容短路的原因為C1電容本體存在空洞，空洞周圍存在開裂現(xiàn)象，局部位置裂紋內(nèi)已填充電極銀漿

（C1電容電極層填充銀漿主要成分為“Ni”元素），空洞和裂紋可能造成電極層間短路，從而造成電容短路。



































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