考慮產(chǎn)品的使用環(huán)境
首先,要明確產(chǎn)品實際的使用環(huán)境。如果電子電氣產(chǎn)品是用于戶外沿海地區(qū),如海邊的通信基站設(shè)備、海洋船舶上的電子儀器等,這類產(chǎn)品直接暴露在高鹽霧濃度的環(huán)境中,需要選擇較嚴(yán)格的鹽霧腐蝕測試標(biāo)準(zhǔn)。例如,可能需要參照一些長期鹽霧暴露試驗標(biāo)準(zhǔn),像 ASTM B117 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的連續(xù)噴霧測試方法,模擬長時間的高鹽霧濃度環(huán)境。而對于室內(nèi)使用的電子電氣產(chǎn)品,如普通的家用電腦、電視等,其受到鹽霧腐蝕的可能性相對較小,在選擇標(biāo)準(zhǔn)時可以考慮適度降低鹽霧濃度和測試時間,如采用 GB/T 2423.17 中規(guī)定的中性鹽霧試驗(NSS),模擬一般室內(nèi)偶爾可能接觸到鹽霧的情況。
依據(jù)產(chǎn)品的材料和結(jié)構(gòu)特性
不同的材料和結(jié)構(gòu)對鹽霧腐蝕的敏感性不同。對于以金屬材料為主的電子電氣產(chǎn)品,如金屬外殼的工業(yè)控制器,由于金屬*發(fā)生電化學(xué)腐蝕,在選取標(biāo)準(zhǔn)時要重點關(guān)注能夠檢測金屬腐蝕程度的標(biāo)準(zhǔn)。如果產(chǎn)品含有多種金屬,還需要考慮不同金屬之間的電偶腐蝕情況,可選擇能模擬多種金屬接觸環(huán)境的鹽霧測試標(biāo)準(zhǔn)。對于含有大量電子元器件和復(fù)雜電路板的產(chǎn)品,除了考慮金屬引腳、焊點的腐蝕外,還要考慮鹽霧對電路板絕緣性能的影響。此時,標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)包含對絕緣電阻、介電強度等電氣性能在鹽霧腐蝕后的檢測內(nèi)容,如 IEC 60068 - 2 - 11 標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)鹽霧試驗后電氣性能評估的部分。
結(jié)合產(chǎn)品的重要性和可靠性要求
對于一些對安全性和可靠性要求較高的電子電氣產(chǎn)品,如醫(yī)療電子設(shè)備、航空航天電子設(shè)備等,需要選擇較嚴(yán)格的鹽霧腐蝕測試標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)不僅要考慮鹽霧對產(chǎn)品外觀和基本性能的影響,還要考慮對其關(guān)鍵功能的損害。例如,航空航天電子設(shè)備可能需要參照 MIL - STD - 810 標(biāo)準(zhǔn)中的鹽霧測試部分,進行一系列復(fù)雜的鹽霧試驗,包括不同鹽霧濃度、溫度、濕度等條件的組合測試,以確保產(chǎn)品在較端惡劣環(huán)境下仍能正常工作。而對于一些對可靠性要求相對較低的消費類電子產(chǎn)品,可以根據(jù)其預(yù)期使用壽命和故障后果來選擇合適的標(biāo)準(zhǔn),避免過度測試增加成本。
詞條
詞條說明
金屬涂層的失效意味著金屬長時間暴露在大氣中,導(dǎo)致涂層的各種物理和化學(xué)性質(zhì)衰減,失去其原有性能,部分或失去對基礎(chǔ)金屬材料的保護。為此我們在對金屬涂層反復(fù)的檢測后,發(fā)現(xiàn)如果金屬涂層失效破裂,腐蝕因子就會大量滲透到金屬基材的底面,導(dǎo)致金屬涂層或金屬基材的腐蝕。腐蝕產(chǎn)物的形成和積累可能導(dǎo)致金屬金屬涂層的附著力降低。?所以,了解金屬涂層失效原因,是金屬涂層檢測研究的一個重要方向。?編輯:
如何根據(jù)包裝抗壓試驗結(jié)果來優(yōu)化包裝結(jié)構(gòu)設(shè)計以提高抗壓性能?
分析試驗數(shù)據(jù)與失效模式首先,仔細研究包裝抗壓試驗的結(jié)果數(shù)據(jù)。查看在何種壓力下包裝開始出現(xiàn)變形、損壞,記錄壓力 - 變形曲線的關(guān)鍵節(jié)點。同時,分析包裝的失效模式,如紙箱是棱邊先被壓潰,還是面板整體塌陷;塑料包裝是出現(xiàn)破裂、還是過度變形失去對產(chǎn)品的支撐能力等。例如,如果發(fā)現(xiàn)紙箱在抗壓試驗中總是棱邊處較先損壞,這表明棱邊位置是抗壓的薄弱環(huán)節(jié)。優(yōu)化材料選擇與組合根據(jù)試驗結(jié)果,考慮更換或優(yōu)化包裝材料。如果發(fā)
不同加工工藝對鋁及鋁合金成分分析檢測結(jié)果的影響有哪些?
鑄造工藝的影響在鑄造過程中,熔煉溫度和時間是關(guān)鍵因素。如果熔煉溫度過高或時間過長,一些低熔點的合金元素可能會揮發(fā),從而導(dǎo)致成分分析檢測時這些元素的含量比實際配方中的含量低。例如,鋁合金中的鎂元素,其熔點相對較低,在高溫熔煉過程中*揮發(fā)損失。冷卻速度也會對成分檢測結(jié)果產(chǎn)生影響。較快的冷卻速度可能導(dǎo)致元素偏析。例如,在鑄造鋁合金時,硅元素可能會在晶界處富集,使晶界和晶內(nèi)的成分出現(xiàn)差異。在進行成分分析
優(yōu)爾鴻信檢測 PCB板上離子污染的主要來源有哪些,如何預(yù)防?
主要來源制造過程中的化學(xué)物質(zhì)殘留:在 PCB 板的制造過程中,會使用多種化學(xué)試劑。例如,在蝕刻環(huán)節(jié),使用的蝕刻液可能會殘留在 PCB 板上。如果蝕刻后的清洗不徹底,蝕刻液中的金屬離子(如銅離子)就會成為離子污染源。另外,在電鍍過程中,電鍍液也可能會有殘留,其中含有的鎳、金等金屬離子也會造成污染。助焊劑殘留:在焊接電子元件時,會使用助焊劑來提高焊接質(zhì)量。助焊劑通常含有**酸、鹵化物等成分。焊接完成后
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
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