X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

時間：2022-05-12作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：352

X射線熒光光譜儀另一方面，化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內(nèi)層電子被激起，則當(dāng)外層電子躍遷時，就會放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進(jìn)程。當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。這一互相效果進(jìn)程被稱為光電效應(yīng)，被打出的電子稱為光電子。經(jīng)過研討光電子或光電效應(yīng)可以**關(guān)于原子構(gòu)造和成鍵形態(tài)的信息。
X熒光光譜儀在新領(lǐng)域的使用
在人們的日常生涯中，很多資料都含有濃度不等的重金屬元素，例如鉛、鉻、汞等。這些元家對人體有毒有害，其含量如**出答應(yīng)局限，會較大損害人的安康，包羅人的行為才能和智力程度。因而，歐盟針對塑料產(chǎn)物等的新規(guī)范曾經(jīng)生效，對有毒有害元素含量有了較為嚴(yán)厲的限制。因為我國每年有大徽塑材出口。這一規(guī)范的施行對我國原資料出產(chǎn)和出口有著較大的影響。而XRF光譜儀技能則特殊合適于用來監(jiān)控相關(guān)資料中的有毒有害元家的含量，該技能已普遍使用于實踐出產(chǎn)質(zhì)較節(jié)制。
此外，XRF光譜儀在無損檢測方面，具有其他剖析技能無法比較的長處，應(yīng)用X射線光譜儀掃描辦法探測土壤表層下面的是元素是X射線無損檢側(cè)技能的一個主要使用范疇。
物理原理


當(dāng)材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道，以填補(bǔ)遺留下來的洞。在“回補(bǔ)”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。


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• 詞條

  詞條說明

• X射線熒光光譜儀的主要用途

  主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，**次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現(xiàn)在，該方法作為非破壞性分析技術(shù)，并作為過程控制的工具，廣泛應(yīng)用于采掘和加工工業(yè)。原則上，較輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產(chǎn)量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光

• rohs檢測儀有哪些技術(shù)指標(biāo)

  RoHS檢測儀就是歐盟RoHS測試標(biāo)準(zhǔn)的檢測儀器。簡單的說就是測試鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價鉻Cr6+，多溴二苯醚PBDE，多溴聯(lián)苯PBB六種有害物質(zhì)的儀器。元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)元素含量分析范圍為1PPm到9999%RoHS指令規(guī)定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 檢測限較高達(dá)1PPM;測量時間: 60-200秒溫度適應(yīng)范圍為15°C至30°C電源:交流220V+5V (

• X熒光光譜鍍層測厚儀

  X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測器對儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動切換的準(zhǔn)直

• X射線熒光光譜儀常見有那幾種分類

  波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進(jìn)行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與