基于J750的S698PM芯片BSD測試方法

時間：2022-03-14作者：深圳市清寶科技有限公司瀏覽：57

S698PM芯片是一款高性能、高可靠性、高集成度、低功耗的抗輻射多核并行處理器SoC芯片。該芯片集成了豐富的片上外設(shè)，可廣泛應(yīng)用于航空航天、大容量數(shù)據(jù)處理、工控、船舶、測控等應(yīng)用領(lǐng)域；而J750是一款SOC芯片ATE（Test）測試機，測試結(jié)果比較被業(yè)界認可，市場占有率非常高。下面主要介紹在J750上開發(fā)S698PM芯片的BSD測試流程和注意事項。</p>

<p>文章編號：</p>

<p>J750 上 S698PM 的 BSD 測試</p>

<p>張志國</p>

<p>珠海歐比特有限公司, 珠海 519080</p>

<p>：S698PM反芯片是一款高、高、高、低功耗的多核SOC芯片，J750是SOC芯片測試的ATE；這里主要對J750上的S698PM芯片進行BSD測試。</p>

<p>關(guān)鍵詞：SOC；S698PM; 工商管理碩士；吃; BSD；</p>

<p>1. 概述</p>

<p>隨著SOC芯片系統(tǒng)的功能越來越復(fù)雜，一個芯片通常包括數(shù)字部分、模擬部分和相關(guān)的存儲設(shè)備，甚至一些射頻模塊，這不僅提出了快、高效的ATE測試設(shè)備。要求高，還要考慮測試時間的成本，所以客戶通常要求測試程序的前兩個測試項目能夠快速確定SOC芯片90%常見問題的缺陷。經(jīng)過多年對SOC測試方法和測試原理的探索，前兩項測試內(nèi)容標準逐漸形成：一是電流功耗測試芯片測試，二是BSD測試項目流程。</p>

<p>2.S698PM芯片介紹</p>

<p>S698PM芯片是一款抗輻射、高性能、高可靠性、高集成度、低功耗的多核并行處理器SoC芯片；S698PM芯片集成了豐富的片上外設(shè)，包括常用的USB2.0主控、I2C主控、以太網(wǎng)控制器等功能模塊；S698PM芯片支持RTEMS、eCOS、Linux等實時嵌入式操作系統(tǒng)，用戶可以輕松實現(xiàn)嵌入式實時控制系統(tǒng)設(shè)計的高性能多核并行處理。</p>

<p><img src='/upload/news/

6BC8B73A9.gif' alt='怎么測試芯片_芯片測試_芯片好壞測試'/></p>

<p>S698PM芯片采用TMR技術(shù)對芯片內(nèi)部所有邏輯單元進行三模冗余加固，并采用EDAC技術(shù)對內(nèi)外存儲器進行錯誤檢測和糾錯加固，因此芯片具有較高的抗輻射性。</p>

<p>S698PM是****量產(chǎn)嵌入式SPARC V8多核SOC芯片，對標LEON4**版本，在功能和性能上均處于行業(yè)良好地位。S698PM 代表了當(dāng)今 SPARC 嵌入式 SOC 芯片的較高水平。</p>

<p>3.BSD測試項目原理</p>

<p>BSD(-scan)的測試原理主要是利用芯片中的JTAG電路來檢測芯片管腳電路是否存在功能缺陷。因此，SOC芯片中的JTAG電路主要有兩個功能，可以通過模式選擇引腳來設(shè)置。一是通過JTAG電路對SOC芯片內(nèi)核的工作參數(shù)進行配置和調(diào)試，實現(xiàn)軟件在線調(diào)試功能；另一個功能是通過JTAG端口注入掃描控制信號，進行芯片硬件電路的BSD測試或MBIST測試。</p>

<p>在芯片設(shè)計階段，插入JTAG電路時，會在芯片的所有管腳接口中插入一個帶時鐘的觸發(fā)器，將時鐘信號連接到信號上。掃描鏈的串行互連相連，初始輸入端與終端相連，較終輸出端與終端相連，形成閉環(huán)測試鏈。最后，使用該工具生成BSD測試程序需要的文件，提供給測試機進行測試。</p>

<p>4. 基于J750的BSD測試方法</p>

<p>首先BSD測試需要準備測試向量文件，即IC設(shè)計工程師在插入JTAG電路時生成的邊界掃描向量表文件，同時還要準備測試機所需的參數(shù)設(shè)置文件。這兩個文件共同決定了信號的類型和信號隨時鐘周期的變化。</p>

<p>常見的信號類型有RH、RL、NR、ROFF、SBC、SBH、SBL等。時鐘信號的一般類型是SBL，這樣可以設(shè)置時鐘的周期，控制脈寬，從而方便測試人員控制按鍵信號；其他信號類型一般為NR芯片測試，方便J750測試儀監(jiān)測。</p>

<p>第二步，使用J750測試軟件Patter功能模塊將標準文件轉(zhuǎn)換為J750可識別的格式文件，如下圖1所示：</p>

<p><img src='/upload/news/

A845065A9.jpg 1x' alt=''/></p>

<p>第三步，利用J750的測試程序?qū)牍δ埽瑢⒁陨蟽蓚€文件導(dǎo)入程序，完成測試機的參數(shù)設(shè)置等參數(shù)，并根據(jù)測試機的特點對參數(shù)進行微調(diào)， S698PM的時序要求，如下圖2所示：</p>

<p><img src='/upload/news/

249D802BB.jpg 1x' alt=''/></p>

<p><img src='/upload/news/

D70D07911.png' alt='怎么測試芯片_芯片測試_芯片好壞測試'/></p>

<p>第四步，設(shè)置BSD測試功能模塊的參數(shù)，調(diào)用BSD測試程序所需的直流和交流參數(shù)，并歸檔。如下圖3所示：</p>

<p><img src='/upload/news/

D3E21C1F0.jpg 1x' alt=''/></p>

<p>第五步，執(zhí)行 BSD Test 命令。測試過程中，如果結(jié)果不符合要求，微調(diào)表中的時間參數(shù)。測試結(jié)果報告如下圖4所示：</p>

<p><img src='/upload/news/

1F81782A3.jpg 1x' alt=''/></p>

<p>5. 結(jié)束語</p>

<p>本文簡要介紹了使用-J750EX自動測試設(shè)備測試嵌入式SoC芯片S698PM的BSD測試原理及注意事項。從測試效果看，由于BSD測試方式與芯片內(nèi)部電路關(guān)系不大，可以快速判斷芯片管腳電路是否有缺陷，大大縮短了測試時間，從而節(jié)省了測試時間，減少了測試成本。BSD測試方法值得推廣。


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• 詞條

  詞條說明

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