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詞條說明
復合鹽霧測試又叫循環(huán)腐蝕測試,循環(huán)腐蝕測試(CCT)主要應(yīng)用于汽車工業(yè),在恒定鹽霧測試基礎(chǔ)上引入了高溫、濕度、低溫、干燥等參量,盡可能考慮了自然環(huán)境中的諸多條件因素,目的為**與自然環(huán)境相關(guān)性較高的測試結(jié)果。復合鹽霧測試目的是用來確認待測物忍受鹽霧環(huán)境的能力,利用鹽霧與濕氣相互循環(huán)方式來模擬實際使用環(huán)境。適用于評估金屬材料與鹽粒子所產(chǎn)生的電化學腐蝕效應(yīng)。?復合鹽霧測試通常包括三個部分,鹽
?高溫運行(高溫貯存)的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應(yīng)性及耐久性,確認材料高溫下的性能,為能正確觀察與驗證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng),同時避免因濕度效應(yīng)影響試驗結(jié)果,標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求,高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能
半導體芯片高低溫測試裝置的日常保養(yǎng)?????用戶在使用半導體芯片高低溫測試裝置的時候,需要經(jīng)常對半導體芯片高低溫測試裝置進行保養(yǎng)工作,使得半導體芯片高低溫測試裝置達到較好的運行效果。打掃半導體芯片高低溫測試裝置表面及內(nèi)腔灰塵,保持機器干凈、衛(wèi)生。檢查電流表電流跟正常時是否一樣,如有異樣,通知維修工檢修。半導體芯片高低溫測試裝置突然停電,要把加熱開關(guān)
鹽霧試驗是一種主要利用鹽霧試驗設(shè)備所創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來考核產(chǎn)品或金屬材料耐腐蝕性能的環(huán)境試驗。人工模擬鹽霧環(huán)境試驗是利用一種具有一定容積空間的試驗設(shè)備——鹽霧試驗箱,在其容積空間內(nèi)用人工的方法,造成鹽霧環(huán)境來對產(chǎn)品的耐鹽霧腐蝕性能質(zhì)量進行考核。其鹽霧環(huán)境的氯化物的鹽濃度,可以是一般**環(huán)境鹽霧含量的幾倍或幾十倍,使腐蝕速度大大提高,對產(chǎn)品進行鹽霧試驗,得出結(jié)果的時間也大大縮短。在人工模擬
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