反射內(nèi)存卡電子故障注入與診斷

時(shí)間：2019-12-29作者：上海百速信息技術(shù)有限公司瀏覽：17

反射內(nèi)存卡電子故障注入與診斷

　　故障注入是指針對(duì)特定的故障模型，有意識(shí)的在目標(biāo)系統(tǒng)中催出故障，加速其錯(cuò)誤和失效的發(fā)生，通過(guò)分析系統(tǒng)對(duì)所注故障的回應(yīng)信息，可以驗(yàn)證其容錯(cuò)和故障安全等信息。

　　對(duì)于*電子平臺(tái)來(lái)講，必須具有很高的運(yùn)行穩(wěn)定性、健壯性和可維修性。因此在*電子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、研發(fā)和測(cè)試過(guò)程中充分考慮各種異常狀態(tài)可能帶來(lái)的影響，是系統(tǒng)設(shè)計(jì)的重要內(nèi)容。故障注入通過(guò)模擬電子設(shè)備及其接口可能發(fā)生的異常( 包括物理連接失敗、性能參數(shù)下降、功能失效、時(shí)序錯(cuò)誤等)，可對(duì)電子系統(tǒng)進(jìn)行較全面的測(cè)試和驗(yàn)證。

　　NI 為電子故障注入與診斷提供了*佳的軟硬件綜合平臺(tái)，結(jié)合基于PXI 總線的故障注入模塊（FIU）、精確電壓電流激勵(lì)源、各種矩陣開(kāi)關(guān)模塊以及MILSTD-1553/ ARINC-429/ AFDX 等航空總線接口模塊可模擬*電子設(shè)備與接口所發(fā)生的異常，并且可通過(guò)NI 的各種信號(hào)調(diào)理與采集模塊將目標(biāo)系統(tǒng)的回應(yīng)信息進(jìn)行采集分析。NI LabVIEW、NI TestStand 等軟件為故障注入與診斷提供了高效的ATE 測(cè)試程序開(kāi)發(fā)與測(cè)試流程管理解決方案。
　應(yīng)用舉例故障注入綜合測(cè)試平臺(tái) 器件級(jí)的故障注入：通過(guò)開(kāi)放式的程序設(shè)計(jì)使設(shè)備可以強(qiáng)制”拉出”和”灌入”電流，注入的*短時(shí)間可程序控制板級(jí)/ 單元級(jí)電氣層故障注入：通過(guò)開(kāi)放式的程序設(shè)計(jì)使設(shè)備可以產(chǎn)生任意頻率的數(shù)字時(shí)序，可以配合矩陣開(kāi)關(guān)或多路復(fù)用開(kāi)關(guān)進(jìn)行故障注入板級(jí)/ 單元級(jí)物理鏈路層故障注入：使用矩陣/ 多路復(fù)用通用開(kāi)關(guān)，通過(guò)開(kāi)放式的程序設(shè)計(jì)使設(shè)備可以模擬任意通道短路、斷路、信號(hào)電阻搭接等故障 同時(shí)對(duì)于此測(cè)試平臺(tái)可通過(guò)NI TestStand 軟件實(shí)現(xiàn)測(cè)試管理，且支持ATLAS 和ATML 案例：某研究所基于NI PXI 平臺(tái)及相應(yīng)軟件構(gòu)建上述故障注入所需的硬件與軟件試驗(yàn)環(huán)境 具體看來(lái)，基于PXI 的SMU 模塊可實(shí)現(xiàn)電流的”拉出”與”灌入”，并通過(guò)NI LabVIEW 編寫(xiě)程序精確控制時(shí)間到ms 量級(jí)。 基于PXI 的高速數(shù)字I/O 模塊可以產(chǎn)生任意頻率的數(shù)字時(shí)序，配合矩陣開(kāi)關(guān)模塊進(jìn)行電氣層故障注入。基于PXI 的FIU 模塊可以實(shí)現(xiàn)任意通道的短路、斷路等故障模擬。NI TestStand 測(cè)試管理軟件支持LabVIEW、LabWindows/CVI、C/C++、.NET等語(yǔ)言編寫(xiě)的測(cè)試用例集成，并支持ATLAS 和ATML 的標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)入，*編程即可快速而穩(wěn)定地實(shí)現(xiàn)綜測(cè)平臺(tái)的集成工作。


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  反射內(nèi)存卡電子故障注入與診斷 故障注入是指針對(duì)特定的故障模型，有意識(shí)的在目標(biāo)系統(tǒng)中催出故障，加速其錯(cuò)誤和失效的發(fā)生，通過(guò)分析系統(tǒng)對(duì)所注故障的回應(yīng)信息，可以驗(yàn)證其容錯(cuò)和故障安全等信息。 對(duì)于*電子平臺(tái)來(lái)講，必須具有很高的運(yùn)行穩(wěn)定性、健壯性和可維修性。因此在*電子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、研發(fā)和測(cè)試過(guò)程中充分考慮各種異常狀態(tài)可能帶來(lái)的影響，是系統(tǒng)設(shè)計(jì)的重要內(nèi)容。故障注入通過(guò)模擬電子設(shè)備及其接口可能發(fā)生的異常(