烤箱高溫測試效率高

時間：2020-09-17作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：400

高溫測試
（高溫運(yùn)行、高溫貯存）的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應(yīng)性及耐久性。確認(rèn)材料高溫下的性能。
為能正確觀察與驗證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng)，同時避免因濕度效應(yīng)影響試驗結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。
高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。
高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
a. 填充物和密封條軟化或融化；
b. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減?。?br>c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞；
d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學(xué)反應(yīng)等；
e. 材料膨脹造成機(jī)械應(yīng)力增大或磨損增大。
參考標(biāo)準(zhǔn)
IEC 007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 *2部分:試驗方法 試驗B：高溫》
GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》
MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗》
GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗
MIL-ST2F《電子及電氣元件試驗方法》
GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
MIL-STD83D 《微電子器件試驗方法和程序》
SJ/T 10392《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負(fù)荷試驗
SJ/T 10392《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗
GB/T135492《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法》
QC/T 2002《汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件》
YD/T 2009《移動通信手持機(jī)充電器及接口技術(shù)要求和測試方法》


深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于拉伸測試,臭氧老化測試,冷熱沖擊測試,烤箱安全檢測等

• 詞條

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