表面粗糙度測(cè)量的技術(shù)方法-星楓儀器

時(shí)間：2016-01-02作者：南昌星楓儀器有限公司瀏覽：123

表面粗糙度測(cè)量的主要術(shù)語(yǔ)及定義

(1)表面粗糙度取樣長(zhǎng)度l

取樣長(zhǎng)度是用于判斷和測(cè)量表面粗糙度時(shí)所規(guī)定的一段基準(zhǔn)線長(zhǎng)度，它在輪廓總的走向上取樣。

(2)表面粗糙度評(píng)定長(zhǎng)度Ln

由于加工表面有著不同程度的不均勻性，為了充分合理地反映某一表面的粗糙度特性，規(guī)定在評(píng)定時(shí)所必須的一段表面長(zhǎng)度，它包括一個(gè)或數(shù)個(gè)取樣長(zhǎng)度，稱為評(píng)定長(zhǎng)度Ln。

(3)表面粗糙度輪廓中線m

輪廓中線m是評(píng)定表面粗糙度數(shù)值的基準(zhǔn)線。

評(píng)定參數(shù)及數(shù)值

國(guó)家規(guī)定表面粗糙度的參數(shù)由高度參數(shù)、間距參數(shù)和綜合參數(shù)組成。

表面粗糙度高度參數(shù)共有三個(gè):

(1)輪廓算術(shù)平均偏差Ra

在取樣長(zhǎng)度l內(nèi)，輪廓偏距值的算術(shù)平均值。

(2)微觀不平度十點(diǎn)高度Rz

在取樣長(zhǎng)度內(nèi)的輪廓峰高的平均值與五個(gè)的輪廓谷深的平均值之和。

(3)輪廓大高度Ry

在取樣長(zhǎng)度內(nèi)，輪廓峰**線和輪廓谷底線之間的距離。

表面粗糙度間距參數(shù)共有兩個(gè)：

(4)輪廓單峰平均間距S

兩相鄰輪廓單峰的高點(diǎn)在中線上的投影長(zhǎng)度Si，稱為輪廓單峰間距，在取樣長(zhǎng)度內(nèi)，輪廓單峰間距的平均值，就是輪廓單峰平均間距。

(5)輪廓微觀不平度的平均間距Sm

含有一個(gè)輪廓峰和相鄰輪廓谷的一段中線長(zhǎng)度Smi，稱輪廓微觀不平間距。

表面粗糙度綜合參數(shù)

(6)輪廓支承長(zhǎng)度率tp

輪廓支承長(zhǎng)度率就是輪廓支承長(zhǎng)度np與取樣長(zhǎng)度l之比。


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